深圳市精誠電子儀器有限公司

FlukeTi40FT熱成像儀采用創(chuàng)新的IR-Fusion?技術。IR-Fusion不僅能捕獲可見光圖像，而且還能提供紅外圖像，揭開了紅外圖像分析的神秘面紗。它可幫助用戶更好地識別和報告可疑組件，并能夠在第一時間完成維修。若要了解FlukeTi40FT熱成像儀詳細信息，請選擇本頁側欄中的IR-Fusion。

FlukeTi40FT熱成像儀圖片
FlukeTi40FT熱成像儀技術指標
成像性能
熱學
視場(FOV)*
20毫米鏡頭23°x17°FOV
10.5毫米鏡頭42°x32°
54毫米鏡頭9°x6°
空間分辨率(IFOV)*
2.60mrad
最小焦距*
0.15米
熱敏度(NETD)
Ti45:≤0.08°C(80mK)，30°C時
Ti40:≤0.09°C(90mK)30°C時
探測器數(shù)據(jù)采集/圖像頻率*
30Hz/60Hz
對焦
SmartFocus；一指通連續(xù)聚焦
IR數(shù)字縮放
Ti45：2倍
Ti40：-
探測器類型
160x120焦平面陣列，VanadiumOxide(VOx)非制冷微量熱型探測器
光譜帶
8μm至14μm
數(shù)字圖像增強
增強的自動全時成像功能
照相機屏顯操作模式
Ti45：完全熱紅外光、完全可見光或熱紅外光-可見光組合圖像。畫中畫
Ti40：完全熱紅外光或完全可見光在SmartView軟件中合并熱紅外光-可見光圖像。畫中畫
可見光照相機
1280x1024像素，全色
可見光數(shù)字縮放
Ti45：2倍
Ti40：-
溫度測量
校準溫度范圍
Ti45：-20?C至600?C，3量程（-4oF至1112oF）
Ti40：-20?C至350?C，2量程（-4oF至662oF）
量程1
Ti45：-20?C至100?C（-4oF至212oF）
Ti40：-20?C至100?C（-4oF至212oF）
量程2
Ti45：-20?C至350?C（-4oF至662oF）
Ti40：-20?C至350?C（-4oF至662oF）
量程3
Ti45：250?C至600?C（-482oF至1112oF）
Ti40：-
可選-高溫
Ti45：高達1200?C(2192oF)
Ti40：-
量程4
Ti45：500?C至1200?C（932oF至2192oF）
Ti40：-
準確度
±2°C或2%（取大者）
測量模式
Ti45：中心點，中心框（區(qū)域最小/最大值、平均值），可移動光點/框，用戶定義的區(qū)域/文本注釋，恒溫，自動冷、熱點檢測以及可見彩色超限（上限和下限）警報
Ti40：中心點、中心框（區(qū)域最小/最大值、平均值）
發(fā)射率校正
0.1至1.0（0.01增量）

回收Fluke熱成像儀Ti40FT。