濟南銘威檢測技術有限公司

徠卡光學顯微鏡
所查看的產品表面是否具有比較陡峭的坡度還是具有復雜的形貌？使用高清共聚焦顯微鏡能夠實現2納米的垂直分辨率。您所查看的產品平面是否非常平整但具有非常微小的尖峰和凹坑？可從以下三種干涉測量模式中選擇：垂直掃描干涉測量（VSI）；相移干涉測量（PSI）或者適用于分辨率高達0.1納米的擴展相移干涉測量（ePSI）。如果您需要快速絢麗的高清二維圖像，則LeicaDCM8可提供明視場模式和暗視場模式。
LeicaDCM8采用創新性高清微顯示掃描技術。由于傳感器頭部未使用運動部件，因此設備能夠實現快速和可重現的捕捉數據。集成式高清CCD攝像頭具有較大的視場，能夠觀察較大的樣本面積。對于具有較大面積區域的樣本來說，為獲得無縫和精確的模型，只需要選擇超快XY地形拼接模式即可。
我們的用戶友好型LeicaSCAN軟件能夠控制LeicaDCM8設備。配方方案，多樣本和統計分析能夠優化工作流程。您是否還需要執行更為復雜的三維測量任務？那就選擇我們的徠卡Map軟件，以及全套高級分析工具。當然，如果您只需要二維圖像，則徠卡應用程序套件(LAS)將會進一步擴展系統的測量功能。 
徠卡光學顯微鏡：http://www.leica-china.com.cn/ParentList-1662562.html 
http://www.chem17.com/st115947/product_30012553.html