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靜態激光粒度分析儀-靜態激光粒度測定激光粒度儀德國Fritsch公司是實驗室樣品預處理和顆粒度分析的專家。其生產的A22NanoTec大量程納米激光粒度儀，采用聚焦激光散射、衍射的原理進行樣品顆粒度的檢測。最低檢測下限可達0.01μm，在全球同類產品中都處于領先地位。A22NanoTec的推出，可以完全替代之前Fritsch公司所生產的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀，讓您一次使用中可以同時獲得過去三臺機器的全部功效，使用更加便捷。技術參數：1.分析方法：激光散射/激光衍射2.濕法測量范圍：0.01-2000μm3.測量時間：5-10s（單一測量時測量值記錄）；2min（整個測量循環）4.分析樣品回路體積：300-500ml，可調節容積，可調速徑向泵5.測量周期：2min6.光學排列：反傅立葉設計，活動的測量元件（FRITSCH專利）7.測量通道：1658.測量結果的重現性：≤0.5％9.光源：波長532nm1束、波長940nm1束10.雙激光兩束設計：綠光、紅色雙激光測量光束11.傅里葉透鏡：260mm和560mm焦距（綠光或紅外線）12.軟件：采用FRITSCHMaS控制軟件，用于控制，記錄和評估測量結果13.符合國際ISO13320標準主要特點：1.大量程激光粒度儀A22NanoTec，可完全替代以前的緊湊型、微米型、大量程微米型激光粒度儀2.雙激光三束設計:綠光1束(532nm)，紅色激光1束(940nm)3.先進的曲光系統4.雙測量位置5.測量時間10sec.6.高效的自動光束測量陣列7.測量系統和濕法分散系統獨立分開8.適用于在水相及大多數有機相（例如異丙醇）中使用9.可調節容積，通過電腦可實現選擇：300、400、500ml10.測量單元使用Cardridge-like設計->易于轉換改變11.可調節的超聲波探頭12.無須使用攪拌器.飛馳科學儀器|||靜態激光粒度分析儀-靜態激光粒度測定