東莞市亞宸電子有限公司

回收AQ6317B光譜分析儀
二手橫河AQ6317B說(shuō)明書、產(chǎn)品資料
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YokogawaAQ6370是一款高性能的光譜分析儀。適用于光源測(cè)試，光器件波長(zhǎng)損耗特性的測(cè)量以及50G密集波分復(fù)用

（DWDM）系統(tǒng)的波形分析等，其上一代產(chǎn)品AQ6370已在那些需要高精度測(cè)試的科研、高校等領(lǐng)域得到了廣泛使用！

AQ6370B在同類產(chǎn)品中具有極佳的光學(xué)性能。內(nèi)部先進(jìn)的高精密衍射光柵二次分光技術(shù)使其具有了相當(dāng)好的測(cè)量動(dòng)態(tài)范

圍、分辨率以及波長(zhǎng)精度等指標(biāo)，使測(cè)量譜形最大程度地接近真實(shí)光譜！

·高波長(zhǎng)分辨率：20pm，可更好的分辨出相鄰兩個(gè)波長(zhǎng)的光譜；

·波長(zhǎng)精度：可達(dá)±0.02nm（在C波段）；在L和S波段為±0.04nm；

·在整個(gè)波長(zhǎng)測(cè)量范圍600nm~1700nm為±0.1nm，保證了測(cè)量的光波長(zhǎng)的真實(shí)性；

·寬動(dòng)態(tài)范圍：可達(dá)70dB（峰值波長(zhǎng)±0.4nm；分辨率0.02nm），可更準(zhǔn)確地測(cè)量到與大信號(hào)相鄰的小信號(hào)譜形；

·功率水平精度：±0.4dB；

·功率測(cè)量范圍：-90dBm~+20dBm，非常微弱的光信號(hào)仍然可以準(zhǔn)確地測(cè)量到；

·高速掃描測(cè)量：高靈敏度測(cè)量時(shí)掃描速度得到極大改善；

·可對(duì)單模、多模光纖及自由空間光輸入測(cè)量；

·具有USB、以太網(wǎng)口、GP-IB等豐富接口方便數(shù)據(jù)的存儲(chǔ)、傳輸以及對(duì)儀器的遠(yuǎn)程控制；應(yīng)用范圍

·GP-IB、LAN、打印機(jī)和其它，多個(gè)通信接口.


 詳細(xì)資料：
AQ6317B是一款高精度，性能一流的光譜分析儀，廣泛應(yīng)用于無(wú)源/有源器件生產(chǎn)、WDM系統(tǒng)等通信系統(tǒng)測(cè)試中。
主要參數(shù)如下：
適用范圍:WDM，LD，LED，&FBG
波長(zhǎng)范圍:600to1750nm
波長(zhǎng)精度:±0.05nm
波長(zhǎng)線性度:±0.01nm
波長(zhǎng)重復(fù)性:±0.005
分辨精度:±5%
動(dòng)態(tài)范圍:60dB
掃描速度:appoximately500msec
PDL:±0.05dB
精度:±0.3dB
波長(zhǎng)分辨率:0.015nm
最大輸入功率:+20dBm(100mW)
9.4-inchcolorLCDdisplay
內(nèi)存:32traces，20programs
GP-IB通信接口


Specifications:

- Wavelength Range: 600 to 1750 nm
- Dynamic Range: 60 dB (1523nm， peak 0.2nm， resolution: 0.01nm)
- Wavelength Accuracy: 0.5 nm (600 to 1750nm)
- Wavelength Linearity: 0.01nm (1520 to 1580nm)
- Wavelength Repeatability: 0.005 nm (1 min)
- Polarization Dependency: 0.05 dB (1550/1600nm)， 0.05 dB typ. (1310nm)
Additional Information

- Wavelength Resolution: Resolution setting: 0.01， 0.02， 0.05， 0.1， 0.2， 0.5， 1.0， 2.0nm
- Resolution Accuracy: 5 %
- Level Accuracy: 0.3 dB
- Level Linearity: 0.05 dB
- Sweep Time: Approx. 500 ms

The AQ6317B is an optical spectrum analyzer for a wide range of applications， including light source evaluation， measurement of loss wavelength characteristics in optical devices， and waveform analysis of WDM (Wavelength Division Multiplexing) systems.