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電鍍層測厚儀，鍍層測厚儀，鎳層測厚儀，元素分析儀，X射線熒光測厚儀



CMI900(X熒光鍍層測厚儀)

CMI900 是一款性價比極高的臺式 X 射線熒光光譜儀，應用于涂鍍層厚度測量及材料成分分析。

涂鍍層厚度測量和/或成分分析，元素范圍 Ti - U 

可同時進行多達15層元素成分分析 

測量方法符合ISO 3497，ASTM B568和DIN 50987



應用：

多鍍層金屬厚度測量 

合金鑒定及化學分析 

電鍍液分析 

金成色分析



特點：

標準50瓦微焦X射線管 X熒光/磁感/渦流測厚儀,靈活運用多種分析模型同時分析元素含量和鍍層厚度,實現(xiàn)涂鍍層厚度的精確測試或組成分析 

 

計數(shù)率增加，精度提高 

可升級75瓦光管

多準直器 

計數(shù)率和光斑尺寸之間的最佳平衡

鐳射聚焦 

改善系統(tǒng)再現(xiàn)性（消除人為干擾）

標準FP軟件包 

綜合應用模式 

簡單校準

開槽式設計樣品臺，自動尋找適合所設定焦距的Z軸坐標 

提供中文等7種語言界面