深圳佳捷倫電子儀器有限公司

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射頻阻抗計量器具檢定系統


代替：高頻阻抗量值傳遞系統


射頻阻抗計量器具檢定系統


本檢定系統適用于射（高）頻集總參數阻抗計量器具（即檢測20kHz-1GHz頻段的R，L，C元件和材
料電磁特性所有物儀器設備和量具、標準件），規定了射頻（習慣上也稱高頻）集總參數阻抗量的量值
溯源途徑、傳遞程序及計量器具的檢定方法。


一、計量基準器具
1、高頻集總參數阻抗的國家計量基準器具是指用于復現和保存20kHz-1000GHz高頻阻抗量值（包括
電介質材料的復數介電常數和軟磁材料的復數導磁率）的計量設備和量具。


2、射（高）頻集總參數阻抗計量基準器具包括：
2.1空氣介質同軸線阻抗基準，其阻抗量值由同軸線尺寸和材料電磁特性經理論計算求得。它用
校準按反射系數測量原理設計的高頻阻抗精密測量裝置。空氣介質同軸線也是微波阻抗國家基準，本檢
定系統移用它，有利于射（高）頻、微波阻抗量值的統一。


在（1-1000）MHz頻段，其技術指標為：
反射系數模值｜г｜：1.000±0.002；
相角：±180°±0.5°。


2.2高頻阻高頻阻抗精密測量裝置，它是利用從美國引進的HP4191A高頻阻抗分析儀，


經過準確度論


證分析，保證高頻集總參數阻抗量的以下計量工作性能：


頻率：（1-1000）MHz
反射系數模值｜г｜：1.000±(0.003-0.007)
相角θ：±180°±0.5°；
阻抗模值｜Z｜：1Ω-10kΩ±（0.5-10）%
電容C：10pF-100nF±(0.2-10)%
電感L：10nH-100μH±（0.2-10）%
損耗：tgδ（D）0.001-0.5±<(0.002-0.05)




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