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        上海恩迪檢測控制技術有限公司

        主營:無損檢測設備
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        [供應]超高分辨率納米焦點DR檢測系統
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        • 產品產地:上海
        • 產品品牌:恩迪
        • 包裝規格:納米焦點DR檢測系統
        • 產品數量:10
        • 計量單位:臺
        • 產品單價: 8000000
        • 更新日期:2017-08-28 13:57:26
        • 有效期至:2027-08-26
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        超高分辨率納米焦點DR檢測系統 詳細信息

        超高分辨率納米焦點DR檢測系統


         


        關鍵特征:


        190kV/225kV/240kV穿透型高分辨率納米焦點射線  JIMA卡空間分辨率測試可達0.5微米 支持多種平板探測器,探元大小可選50微米/100微米/139微米/200微米

        主要技術規格:

        微米焦點射線管


        類型

        穿透型納米焦點射線管

        最大管電壓

        190kV/225kV/240kV

        冷卻

        封閉式自循環冷卻

        焦點大小

        0.5微米(采用JIMA卡測試)

        探測器


        類型

        非晶硅平板探測器

        像素大小

        100um /127um /139um/200um

        像素數量

        平板探測器:>2048′2048

        機械系統


        類型

        高精度機械系統

        最大有效檢測范圍

        可定制化

        最大承重

        可定制化

        旋轉

        nx3600

        軟件


        類型

        二維射線檢測

        軟件功能

        系統控制、二維射線檢測、平板探測器校正、圖像處理、灰度分析、圖像濾波、測量功能、支持定制化軟件功能


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